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ウェビナー&講義

マイクロエレクトロニクス産業向けの光学表面測定ソリューション

ウェビナー&講義
USA Sales Manager at Sensofar | Other articles

Adam Platteis, a graduate of York College, joined Sensofar in 2018 as the company’s U.S. sales manager. Before joining Sensofar Metrology, Platteis spent 10 years with Carl Zeiss Microscopy, providing solutions to the semiconductor, microelectronics, and other industrial markets.

このウェビナーはPCB応用における品質管理の特別解析がトピックです。また、重要な寸法測定、粗さ、欠陥識別についても扱います。Adam PlatteisとAlberto Aguerriが司会を務め、ISO 4287とISO 25178に関するソリューションと、Sensofar独自のソフトウェアによる表面形状、粗さパラメータ、表面性状の欠陥、高さ、痕のすばやい識別について紹介します。ウエハー、パッド、段差高さ、接合部、プローブカードの画像化に焦点を当てます。

Sensofarのソリューションは、研究開発ラボや生産ライン上品質保証・品質管理の高スループット環境における合否レポーティングに使用できます。Sensofarは、半導体・マイクロエレクトロニクス産業向けに、共焦点法、干渉法、焦点移動法を1つのセンサーヘッドに組み込んだスタンドアロン型、カスタマイズ可能なソリューションを提供します。

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