可集成光学测量系统
可集成光学测量系统解决方案
Sensofar可集成光学测量系统是我们20多年以来专注于表面测量系统的研发结晶，让高精度和超高速测量得以完美结合。
坚固、耐用且可靠
大部分的生产环境并不十分友好——多变的工况、振动、腐蚀性材料等都使测量任务变得更加困难。Sensofar测量系统良好的密封设计可防止碎屑和颗粒进入以保持清洁，无运动部件的光学设计也使测量系统能够长期稳定工作。
紧凑、轻便、 全方位安装
Sensofar可集成系统体积小，重量轻， 便于集成设计，可以根据应用要求进行定位。电缆长度可达20米。这使得它们可以完全适用于在线生产和机器人应用。
解决方案
Sensofar可集成光学测量系统的设计理念源于为质量管控和产品质量分析提供可靠的高性能产品。对于尺寸以及表面状态迥异的产品，我们提供具有针对性的解决方案。
Sensofar可集成光学测量系统的设计理念源于为质量管控和产品质量分析提供可靠的高性能产品。对于尺寸以及表面状态迥异的产品，我们提供具有针对性的解决方案。
S wide 可用于测量毫米级范围的三维尺寸，适合于高速及大尺寸形貌的应用。
视场范围(单一视场) 34.7 x 29.1 mm
扫描速度 3 s
光学分辨率 9.35 µm
纵向分辨率 1 µm
S neox最大程度满足了灵活多样， 高速，高精度的测量需求，定位为通用的工业检测集成系统。
视场范围(单一视场) 6.8 x 5.6 mm
扫描速度 4 s
光学分辨率 148 nm
纵向分辨率 0.01 nm
S mart 定位于紧凑型多功能测量系统，是紧凑设计和多功能性的完美结合。
视场范围(单一视场) 3.4 x 2.8 mm
扫描速度 7 s
光学分辨率 177 nm
纵向分辨率 1 nm
S onix 定位于高速干涉测量系统，非常适合在工业环境，在分辨率和扫描 速度上都有惊人的表现。
视场范围(单一视场) 5.0 x 3.8 mm
扫描速度 3 s
光学分辨率 190 nm
纵向分辨率 1 nm
条纹投影 
Ai 多焦面叠加 
共聚焦 
干涉 
反射光谱
软件配置
一个完整的系统解决方案不仅包括高性能的硬件，也需要界面友好的软件的支持。在此软件系统导图中，我们将介绍测量系统的工作流程图。测量结果分析包括两个步骤：首先，我们需要进行参数设置以获得良好的成像进而得到高质量的3维空间信息。在此基础上，我们需要对软件参数进行设置以便实现测量结果的自动化分析。
一个完整的系统解决方案不仅包括高性能的硬件，也需要界面友好的软件的支持。在此软件系统导图中，我们将介绍测量系统的工作流程图。测量结果分析包括两个步骤：首先，我们需要进行参数设置以获得良好的成像进而得到高质量的3维空间信息。在此基础上，我们需要对软件参数进行设置以便实现测量结果的自动化分析。
应用案例
可集成测量系统可用于半导体，微电子，光学器件等产品的量测，以及材料的表面纹理分析等。囊括了先进制造以及消费电子等行业。
可集成测量系统可用于半导体，微电子，光学器件等产品的量测，以及材料的表面纹理分析等。囊括了先进制造以及消费电子等行业。
半导体
集成电路封装
PCB
显示屏幕
光学器件
刀具
表面纹理分析
可集成头宣传册
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