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网络研讨会和讲座

光学测量技术大师班

网络研讨会和讲座
President & CTO, Ph.D. in Physics (Optical Engineering) at Sensofar Metrology | Other articles

Holder of several patents in the field of Optical Surface Metrology.
Technical committee member of the ISO 25178.
Co-founder of Sensofar in 2001.
Roger has been working since 1997 to the present at the Centre for Sensors, Instruments and Systems Development (CD6) as optical engineer researcher. From 2005 to the present is part of the TG WG16 committee of the ISO25178 standard which is applied in the field of equipment developed in Sensofar. Currently he holds the position of President and CTO at Sensofar Tech SL.

当今市场上的许多系统都采用了光学测量技术,使用户能够获得他们在表面测量作业中所需的测量数据。

运用最广泛的技术包括:条纹投影、共聚焦、干涉测量和多焦面叠加。

在我们最杰出的专家Roger Artigas 博士的指导下,我们将简化这些光学技术,向您提供有关何时以及如何使用它们的指南。

关键主题

  表面测量中的主要光学技术的工作原理

  比较市面上最常用的技术

  测量厚膜和薄膜的区别

  每种技术的优点和缺点清单

  结合 3D 光学技术的好处

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