S wide 是专用系统，适用于快速测量大样品区域，测量面积可达 300 x 300 mm。它具有集成了数字显微镜的高分辨率测量仪器的所有优点。一键式采集功能，易于使用。
S wide 是专用系统，适用于快速测量大样品区域，测量面积可达 300 x 300 mm。它具有集成了数字显微镜的高分辨率测量仪器的所有优点。一键式采集功能，易于使用。
S wide 是专用系统，适用于快速测量大样品区域，测量面积最高可达 300 x 300 mm。它具有集成了数字显微镜的高分辨率测量仪器的所有优点。一键式采集功能，易于使用。
解决方案
大面积 3D 光学测量系统
先进制造业
考古学与古生物学
消费类电子产品
医疗设备
模塑
光学
钟表业
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大面积 3D 光学
测量系统
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医疗设备
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消费类电子产品
医疗设备
模塑
光学
钟表业
亚微米高度 可重复性，整个扩展区域内
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无需 Z 轴扫描即可测量 40mm 的单次测量高度
无需 Z 轴扫描即可测量 40mm 的单次测量高度
具有更低场失真的双侧远心镜头，提供精确的测量
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ISO 标准
可追溯性
每一款 S wide 产品都是为提供准确且可追溯的测量结果而制造的。系统根据 ISO 25178 和 VDI 2634-2 使用可追溯标准进行校准。
ISO 标准
可追溯性
每一款 S wide 产品都是为提供准确且可追溯的测量结果而制造的。系统根据 ISO 25178 和 VDI 2634-2 使用可追溯标准进行校准。
与 3D CAD 模型的形状偏差
提供几何差异和公差测量
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提供几何差异和公差测量
可追溯性
表面纹理测量仪器的校准
我们的所有系统精心制造，提供准确、可追溯的测量。系统按照符合ISO 25178第 7 部分关于下列参数的指南的可追溯标准进行校准：Z 放大系数、XY 横向尺寸、平面度误差以及偏心度。
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