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网络研讨会和讲座

半导体和微电子行业的光学测量解决方案

网络研讨会和讲座
USA Sales Manager at Sensofar | Other articles

Adam Platteis, a graduate of York College, joined Sensofar in 2018 as the company’s U.S. sales manager. Before joining Sensofar Metrology, Platteis spent 10 years with Carl Zeiss Microscopy, providing solutions to the semiconductor, microelectronics, and other industrial markets.

此次网络研讨会讨论了 PCB 应用中的具体质量控制分析。会中还将探讨临界尺寸测量、粗糙度和缺陷识别等话题。演讲者 Adam Platteis 和 Alberto Aguerri 将展示符合 ISO 4287、ISO 25178 标准的解决方案,以及 Sensofar 的专有软件如何快速识别轮廓、粗糙度参数以及表面纹理、高度和痕迹缺陷。重点将放在成像晶片、垫片、台阶高度、键合和探针卡上。

Sensofar 解决方案适用于研发实验室以及在线质量保证/质量控制高通量环境,并具有自动化“合格/不合格”报告功能。Sensofar 提供独立和可定制的解决方案,将共聚焦、干涉测量和多焦面叠加技术集成到半导体和微电子行业的单个测量头中。

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