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网络研讨会和讲座

3D 非接触式表面测量如何改进您的增材制造过程

网络研讨会和讲座
Sales Support Specialist, BSc in Engineering Physics, MSc in Nanoscience and Nanotechnology at Sensofar Metrology | Other articles

David studied his bachelor’s degree at the Polytechnic University of Catalonia (UPC), where he started to work as a Research Assistant in the Department of Physics. Once he finished his master’s degree at the University of Barcelona (UB) he entered into the world of optical metrology joining Sensofar. As a Sales Specialist, he communicates Sensofar’s knowledge about optical metrology and trains our customers on how to extract the full potential of our systems. If you need him, he’ll probably be in our demo room measuring samples or performing live demonstrations.

增材制造已迅速成为许多制造领域中可接受的工艺。 使用加法方法可以轻松生产出功能改进的复杂设计,取代传统的减法和成型工艺。 然而,这些增材制造的零件带来了新的计量挑战。

增材制造生产的零件具有独特的表面纹理,具体取决于印刷技术、使用的材料和工艺参数。 各种不同的技术被用于测量这些样本——从传统的接触式触控笔到先进的 X 射线计算机断层扫描。

在本次网络研讨会中,我们将展示特定的非接触式 3D 光学计量技术如何为增材制造零件的形状和纹理表征提供完整的解决方案。 通过案例研究,我们将展示如何测量和分析完工后处理的样品。

关键主题

  增材制造工艺如何从 3D 光学计量中受益?

  增材制造零件表面纹理测量最常用技术的比较

  技术选择

  如何表征增材制造零件的形状和表面纹理

  研发和质量控制的完整解决方案

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