Level Messsystem
für große
Probenflächen
Das S wide ist ein spezielles System zur schnellen Vermessung großer Probenflächen mit bis zu 300 x 300 mm. Es integriert sämtliche Vorteile eines digitalen Mikroskops in ein hochauflösendes Messgerät. Dank Datenerfassung per einfachem Knopfdruck ist es darüber hinaus ganz leicht zu bedienen.
Das S wide ist ein spezielles System zur schnellen Vermessung großer Probenflächen mit bis zu 300 x 300 mm. Es integriert sämtliche Vorteile eines digitalen Mikroskops in ein hochauflösendes Messgerät. Dank Datenerfassung per einfachem Knopfdruck ist es darüber hinaus ganz leicht zu bedienen.
S wide ist ein spezielles System zur schnellen Vermessung großer Probenflächen mit bis zu 300 x 300 mm. Es integriert sämtliche Vorteile eines digitalen Mikroskops in ein hochauflösendes Messgerät. Dank Datenerfassung per einfachem Knopfdruck ist es darüber hinaus ganz leicht zu bedienen.
LÖSUNGEN
Optisches 3D-Messsystem für große Flächen
Advanced Manufacturing
Archäologie und Paläontologie
Unterhaltungselektronik
Medizinische Geräte
Formverfahren
Optik
Uhrenbau
LÖSUNGEN
Optisches 3D-Messsystem
für große Flächen
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Advanced Manufacturing
Archäologie und Paläontologie
Unterhaltungselektronik
Medizinische Geräte
Formverfahren
Optik
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Formverfahren
Optik
Uhrenbau
Höhenwiederholbarkeit im Sub-Mikrometer-Bereich über den gesamten erweiterten Messbereich
Höhenwiederholbarkeit im Sub-Mikrometer-Bereich über den gesamten erweiterten Messbereich
One-Shot-Höhenmessung bis zu 40 mm ohne Z-Scan
One-Shot-Höhenmessung bis zu 40 mm ohne Z-Scan
Bi-telezentrische Linsen mit sehr niedriger Feldverzerrung für präzise Messergebnisse
Bi-telezentrische Linsen mit sehr niedriger Feldverzerrung für präzise Messergebnisse
ISO-NORMEN
Rückführbarkeit
Jedes S wide ist darauf ausgelegt, präzise und rückführbare Messergebnisse zu liefern. Die Systeme werden unter Verwendung rückführbarer Standards gemäß ISO 25178 und VDI 2634-2 kalibriert.
ISO-NORMEN
Rückführbarkeit
Jedes S wide ist darauf ausgelegt, präzise und rückführbare Messergebnisse zu liefern. Die Systeme werden unter Verwendung rückführbarer Standards gemäß ISO 25178 und VDI 2634-2 kalibriert.
Formabweichung von 3D-CAD-Modellen
für die geometrische Differenz- und Toleranzmessung
Formabweichung von 3D-CAD-Modellen
für die geometrische Differenz- und Toleranzmessung
RÜCKVERFOLGBARKEIT
Kalibrierung von Messgeräten für die Oberflächentextur
Alle unsere Systeme sind so hergestellt, dass sie genaue und nachvollziehbare Messungen liefern. Systeme werden unter Verwendung rückverfolgbarer Standards gemäß den ISO 25178-Richtlinien von Teil 7 kalibriert für: Z-Verstärkungsfaktor, XY-Querabmessungen, Ebenheitsfehler sowie Parzentrizität und Parfokalität.
mit dem neuen
Sensofar-System S wide
außergewöhnliche optische 3D-
Profilometer von Sensofar, mit dem
das Anwendungsspektrum bei
Rauheitsmessungen massiv erweitert wird.
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