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Das nächste
Level Messsystem
für große
Probenflächen

Das S wide ist ein spezielles System zur schnellen Vermessung großer Probenflächen mit bis zu 300 x 300 mm. Es integriert sämtliche Vorteile eines digitalen Mikroskops in ein hochauflösendes Messgerät. Dank Datenerfassung per einfachem Knopfdruck ist es darüber hinaus ganz leicht zu bedienen.

Das S wide ist ein spezielles System zur schnellen Vermessung großer Probenflächen mit bis zu 300 x 300 mm. Es integriert sämtliche Vorteile eines digitalen Mikroskops in ein hochauflösendes Messgerät. Dank Datenerfassung per einfachem Knopfdruck ist es darüber hinaus ganz leicht zu bedienen.

S wide ist ein spezielles System zur schnellen Vermessung großer Probenflächen mit bis zu 300 x 300 mm. Es integriert sämtliche Vorteile eines digitalen Mikroskops in ein hochauflösendes Messgerät. Dank Datenerfassung per einfachem Knopfdruck ist es darüber hinaus ganz leicht zu bedienen.

LÖSUNGEN

Optisches 3D-Messsystem für große Flächen

 Advanced Manufacturing

Archäologie und Paläontologie

Unterhaltungselektronik

Medizinische Geräte

Formverfahren

Optik

Uhrenbau

S wide system detail

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Optisches 3D-Messsystem
für große Flächen

 Advanced Manufacturing

Archäologie und Paläontologie

Unterhaltungselektronik

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Formverfahren

Optik

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Unterhaltungselektronik

Medizinische Geräte

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Optik

Uhrenbau

Topography PCB 2D False Color

Höhenwiederholbarkeit im Sub-Mikrometer-Bereich über den gesamten erweiterten Messbereich

Topo
Topography PCB 2D False Color

Höhenwiederholbarkeit im Sub-Mikrometer-Bereich über den gesamten erweiterten Messbereich

Topo
Topography Progressive lenses 2D false color

One-Shot-Höhenmessung bis zu 40 mm ohne Z-Scan

Profile progressive lenses 2D
progressive_lenses_2d_falsecolor_compo

One-Shot-Höhenmessung bis zu 40 mm ohne Z-Scan

Topography detail chip 2D

Bi-telezentrische Linsen mit sehr niedriger Feldverzerrung für präzise Messergebnisse

Topography chip 3D
Topography detail chip 2D
Topography chip 3D

Bi-telezentrische Linsen mit sehr niedriger Feldverzerrung für präzise Messergebnisse

Topography of the calibration specimen 3D False color

ISO-NORMEN

Rückführbarkeit

Jedes S wide ist darauf ausgelegt, präzise und rückführbare Messergebnisse zu liefern. Die Systeme werden unter Verwendung rückführbarer Standards gemäß ISO 25178 und VDI 2634-2 kalibriert.

Profile calibration specimen 3D
Topography and profile of the calibration specimen 3D False color

ISO-NORMEN

Rückführbarkeit

Jedes S wide ist darauf ausgelegt, präzise und rückführbare Messergebnisse zu liefern. Die Systeme werden unter Verwendung rückführbarer Standards gemäß ISO 25178 und VDI 2634-2 kalibriert.

Additive manufacturing 3D CAD Comparison

Formabweichung von 3D-CAD-Modellen

für die geometrische Differenz- und Toleranzmessung

additive_manufacturing_3d_stack
Additive manufacturing 3D CAD Comparison
additive_manufacturing_3d_stack

Formabweichung von 3D-CAD-Modellen

für die geometrische Differenz- und Toleranzmessung