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Die Erfassung dauert nur eine Sekunde.
Mit der Streifenlichtprojektion-Technologie des S wide und einer Reihe verschiedener Erfassungsmodi können die Messungen optimiert werden, um den höchsten Durchsatz zu erzielen.

Oberflächenmetrologie

QS IN DER FERTIGUNG

Einfach zu bedienen

Das Messen mit dem S wide ist denkbar einfach: Positionieren Sie die Probe, laden Sie das Rezept und überprüfen Sie die Ergebnisse.

S wide sample
Oberflächenmetrologie

QS IN DER FERTIGUNG

Einfach zu bedienen

Das Messen mit dem S wide ist denkbar einfach: Positionieren Sie die Probe, laden Sie das Rezept und überprüfen Sie die Ergebnisse.

High-resolution 3D imaging

HOCHAUFLÖSENDE 3D-BILDERSTELLUNG

Erfassen Sie jedes Detail

Dieser 3D-Scanner verfügt über eine 5 MPx-Farbkamera, die zusammen mit der digitalen Zoomfunktion eine Vielzahl von Details an der Probe erfassen kann.

Large setups

LÖSUNGEN FÜR DIE INDUSTRIELLE METROLOGIE

Large Große Setups

Messen Sie zahlreiche Probenanordnungen und große Flächen dank der 300 x 300 mm Tischkonfiguration.

Large setups
Submicron repeatability

PRÄZISIONSOPTISCHE MESSUNG

Wiederholgenauigkeit im Submikrometerbereich

Die proprietären Streifenprojektionsalgorithmen, die im S wide verwendet werden, führen zu einer bemerkenswerten Genauigkeit im Mikrometerbereich und bieten eine unübertroffene Wiederholbarkeit der Höhenmessung im Submicrometerbereich über große Messflächen.

ERWEITERTE SOFTWARE-TOOLS

Aussagekräftige Datenextraktion

Das S wide ist vollgepackt mit einer Reihe von Analysewerkzeugen, um alle Informationen aus den Messdaten zu extrahieren: Rauheits- und Ebenheitsparameter, kritische Abmessungen, GD&T und CADVergleiche.

Ebenheit
CAD Vergleich & GD&T
Rauheit
Kritische Dimension

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