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网络研讨会和讲座

光学测量技术大师班 – 会视频

总裁兼首席技术官,物理学博士(光学工程) at Sensofar Metrology | Other articles

Roger 拥有光学表面形貌测量领域的多项专利。\n他还是 ISO 25178 技术委员会成员。\n2001 年成为 Sensofar 的联合创始人。\n自 1997 年至今,Roger 一直在传感器、仪器和系统开发中心 (CD6) 工作,担任光学工程师研究员。Roger 从 2005 年至今一直是 ISO25178 标准 TG WG16 委员会成员,该标准被广泛用于 Sensofar 开发设备的相关领域。他目前任 Sensofar Tech SL 的总裁兼首席技术官。\n

当今市场上的许多系统都采用了光学测量技术,使用户能够获得他们在表面测量作业中所需的测量数据。

运用最广泛的技术包括:条纹投影、共聚焦、干涉测量和多焦面叠加。

在我们最杰出的专家Roger Artigas 博士的指导下,我们将简化这些光学技术,向您提供有关何时以及如何使用它们的指南。

关键主题

  表面测量中的主要光学技术的工作原理

  比较市面上最常用的技术

  测量厚膜和薄膜的区别

  每种技术的优点和缺点清单

结合 3D 光学技术的好处

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Fringe Projection, Ai Focus Variation & Confocal

Interferometry & Thickness Measurement

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