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Herzliche Einladung zur nanoRoadshow: Die nächste Stufe der Oberflächen-Qualitätskontrolle

Events, Metrology, News

Die nanoRoadshow: Next level QC of surfaces

Am 17. September 2021 findet von 11 bis 12 Uhr die nanoRoadshow des Clusters Nanotechnologie / Netzwerk NanoAnalytik statt.

Die NanoRoadshow zeigt konkrete Produkt- und Anwendungsfälle aus Industrie und Forschung, die durch die Kombination von optischen Messsystemen von Sensofar mit Rasterkraftmikroskopen von Nanosurf gemeistert werden. Holen Sie sich von unseren Experten Lösungsimpulse für Ihre eigenen Oberflächenfragen in den Bereichen Sicherheitstechnik, Medizintechnik, Elektronik, Produktionskontrolle, Nanometrologie und Beschichtungen. Wir freuen uns auf Ihre Teilnahme.

Die Vortragenden sind unsere Vertriebsleiter in Deutschland und Österreich: Jakob Mallmann und Marcus Weth von Nanosurf.

Speziell gestaltete, funktionale Oberflächen sind die Basis für eine Vielzahl innovativer Produkte. Die Bandbreite der oberflächenbedingten Produkteigenschaften ist groß und reicht von Abriebfestigkeit über Korrosionsschutz, erhöhte Leitfähigkeit, antimikrobiellen Eigenschaften bis hin zum Fälschungsschutz.

Moderne Methoden der Oberflächenanalyse ermöglichen eine Untersuchung der mechanischen, elektrischen, physikalischen und morphologischen Oberflächeneigenschaften bis in den submikroskopischen oder sogar atomaren Bereich. Die Oberflächenanalytik unterstützt damit die Produktentwicklung, ist aber auch für die Prozesskontrolle und Qualitätssicherung unerlässlich. Selbst kleinste Verunreinigungen und Defekte in Materialien, Werkstücken und Bauteilen können erkannt werden.

Optische 3D-Profilometer basierend auf Verfahren wie Konfokal, Interferometrie, Ai-Fokusvariation, Reflektometrie und Streifenlichtprojektion eignen sich zur Messung der Oberflächenrauheit und zur Erkennung von Defekten. Vorteile dieser optischen Messtechnik sind Schnelligkeit und ein guter Überblick über größere Probenbereiche. Mit der Rasterkraftmikroskopie können höhere laterale Auflösungen bis in den einstelligen Nanometerbereich und detaillierte Informationen über mechanische und elektrische Eigenschaften erreicht werden. Jede der beiden Techniken hat ihre spezifischen Vorteile und gleicht die Einschränkungen der jeweils anderen Methode aus. Die innovative Kombination der beiden Messmethoden ermöglicht die Beantwortung ganz neuer Fragestellungen.

„Mehr zum Thema erfahren: Die nächste Stufe der Oberflächen-Qualitätskontrolle. Wir freuen uns auf den Austausch mit Ihnen bei einem virtuellen Kaffeetrinken von 12:00 bis 12: 30 Uhr im Anschluss an die Veranstaltung.“ 

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