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新世代的
大范围计量工具

S wide 是专用系统,适用于快速测量大样品区域,测量面积最高可达 300 x 300 mm。它具有集成了数字显微镜的高分辨率测量仪器的所有优点。一键式采集功能,易于使用。

S wide 是专用系统,适用于快速测量大样品区域,测量面积最高可达 300 x 300 mm。它具有集成了数字显微镜的高分辨率测量仪器的所有优点。一键式采集功能,易于使用。

S wide 是专用系统,适用于快速测量大样品区域,测量面积最高可达 300 x 300 mm。它具有集成了数字显微镜的高分辨率测量仪器的所有优点。一键式采集功能,易于使用。

解决方案

大面积 3D 光学测量系统

 先进制造业

考古学与古生物学

消费类电子产品

医疗设备

模塑

光学

钟表业

S wide system detail

解决方案

大面积 3D 光学
测量系统

 先进制造业

考古学与古生物学

消费类电子产品

医疗设备

模塑

光学

钟表业

先进制造业

考古学与古生物学

消费类电子产品

医疗设备

模塑

光学

钟表业

Topography PCB 2D False Color

亚微米高度 可重复性,整个扩展区域内

Topo
Topography PCB 2D False Color

亚微米高度 可重复性,整个扩展区域内

Topo
Topography Progressive lenses 2D false color

无需 Z 轴扫描即可测量最高 40mm 的单次测量高度

Profile progressive lenses 2D
progressive_lenses_2d_falsecolor_compo

无需 Z 轴扫描即可测量最高 40mm 的单次测量高度

Topography detail chip 2D

具有极低场失真的双侧远心镜头,提供精确的测量

Topography chip 3D
Topography detail chip 2D
Topography chip 3D

具有极低场失真的双侧远心镜头,提供精确的测量

Topography of the calibration specimen 3D False color

ISO 标准

可追溯性

每一款 S wide 产品都是为提供准确且可追溯的测量结果而制造的。系统根据 ISO 25178 和 VDI 2634-2 使用可追溯标准进行校准。

Profile calibration specimen 3D
Topography and profile of the calibration specimen 3D False color

ISO 标准

可追溯性

每一款 S wide 产品都是为提供准确且可追溯的测量结果而制造的。系统根据 ISO 25178 和 VDI 2634-2 使用可追溯标准进行校准。

Additive manufacturing 3D CAD Comparison

与 3D CAD 模型的形状偏差

提供几何差异和公差测量

additive_manufacturing_3d_stack
Additive manufacturing 3D CAD Comparison
additive_manufacturing_3d_stack

与 3D CAD 模型的形状偏差

提供几何差异和公差测量

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