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ウェビナー&講義

Sensofarの新システムS wideで可能性を拡大

ウェビナー&講義
セールスバイスプレジデント、PSDV、フォトニクス理学修士 at Sensofar Metrology | Other articles

2004年からSensofarに所属し、生産チームおよびセールスチームにおいて様々な役割を担う。市場におけるあらゆる光学測定法の深い知識を有する。現在、販売店ネットワークとアジア、ドイツ、アメリカ合衆国などの主要市場における独自のセールス・サポートオフィスを通して、世界各地のセールス業務および応用業務を指揮している。

Sensofarの卓越した新しい3D光学式形状測定装置のすべてを学んで、表面粗さ測定の可能性を広げてください。S wideでは、デジタル顕微鏡の利点が高解像度・高速走査測定装置に組み込まれています。

主なトピック

  日常業務がはかどる使いやすさ。Z軸走査なしで最大40 mmの高さを1回で測定可能。

  広い面積全体でのサブミクロン高さ繰り返し性を実現。

  5メガピクセルカメラ搭載で最適な解像度で色を捉えます。

  日常的な内部プロセスへの効果的な統合を目的とした3D CADモデルからの形状偏差。

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