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'大面積'
'測定向け'
'次世代'
'ツール'

S wideは、最大300×300mmの大面積サンプルでも素早く計測できる測定システムです。デジタルマイクロスコープと高分解能形状測定装置両方の長所を兼ね備え、ボタンひとつでデータを取得できる非常に使い易いデザインになっています。

S wideは、最大300×300mmの大面積サンプルでも素早く計測できる測定システムです。デジタルマイクロスコープと高分解能形状測定装置両方の長所を兼ね備え、ボタンひとつでデータを取得できる非常に使い易いデザインになっています。

S wideは、最大300×300mmの大面積サンプルでも素早く計測できる測定システムです。デジタルマイクロスコープと高分解能形状測定装置両方の長所を兼ね備え、ボタンひとつでデータを取得できる非常に使い易いデザインになっています。

ソリューション

ワンショット 光学式3D形状測定システム

 高度な製造・加工

考古学・古生物学研究

大衆消費電化製品(CE)

医療機器

モールディング

光学

時計

S wide system detail

ソリューション

ワンショット 光学式3D形状測定システム

 高度な製造・加工

考古学・古生物学研究

大衆消費電化製品(CE)

医療機器

モールディング

光学

時計

高度な製造・加工

考古学・古生物学研究

大衆消費電化製品(CE)

医療機器

モールディング

光学

時計

Topography PCB 2D False Color

広い面積全体で、サブミクロンオーダーの高さ再現性

Topo
Topography PCB 2D False Color

広い面積全体で、サブミクロンオーダーの高さ再現性

Topo
Topography Progressive lenses 2D false color

Z軸スキャンせずにワンショットで最大40mmの高さ範囲を計測

Profile progressive lenses 2D
progressive_lenses_2d_falsecolor_compo

Z軸スキャンせずにワンショットで最大40mmの高さ範囲を計測

Topography detail chip 2D

フィールド歪みが非常に少ないバイテレセントリックレンズ採用で、正確な計測が可能

Topography chip 3D
Topography detail chip 2D
Topography chip 3D

フィールド歪みが非常に少ないバイテレセントリックレンズ採用で、正確な計測が可能

Topography of the calibration specimen 3D False color

ISO規格

トレーサビリティ

すべてのS wideは、正確でトレーサブルな測定を提供します。ISO 25178 および VDI 2634-2準拠のトレーサブル標準で校正。

Profile calibration specimen 3D
Topography and profile of the calibration specimen 3D False color

ISO規格

トレーサビリティ

すべてのS wideは、正確でトレーサブルな測定を提供します。ISO 25178 および VDI 2634-2準拠のトレーサブル標準で校正。

Additive manufacturing 3D CAD Comparison

3D-CADモデルからの形状偏差測定

幾何学的差異と公差を測定

additive_manufacturing_3d_stack
Additive manufacturing 3D CAD Comparison
additive_manufacturing_3d_stack

3D-CADモデルからの形状偏差測定

幾何学的差異と公差を測定

Traceability

トレーサビリティ

表面性状測定装置のキャリブレーション

Sensofarのシステムはすべて、高精度な追跡可能な測定データを提供するように生産されています。システムはISO 25178第7部 に従って以下の追跡可能な基準を使用してキャリブレーションされます。Z増幅係数、XY横方向寸法、平坦度エラー、一軸性、同焦点性。

Sensofarの新システムS wide
で可能性を拡大
Sensofarの卓越した新しい3D光学式
形状測定装置のすべてを学んで、
表面粗さ測定の可能性を広げてください。
S wideでは、デジタル顕微鏡の利点が高解像度・高速
走査測定装置に組み込まれています。
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