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Neuigkeiten

Encoded Search Focal Scan (ESFS) – Sensofars neue Ära in der schnellen und präzisen 3D-Bildgebung

Metrology, Neuigkeiten

Sensofar freut sich, ein revolutionäres Patent anzukündigen, das die Landschaft der optischen Messungen neu definieren wird. Die Erfindung ist das Ergebnis der Zusammenarbeit der Sensofar-Wissenschaftler Narcís Vilar, Roger Artigas und Guillem Carles und wird offiziell auf dem bevorstehenden Optical Imaging Congress und später auf der Photonics West in San Francisco vorgestellt.

Die bahnbrechende Entwicklung, bekannt als Encoded Search Focal Scan (ESFS), bringt einen grundlegenden Wandel in die traditionellen optischen Techniken zur berührungslosen Oberflächenmessung dreidimensionaler Objekte mit submikrometrischer Auflösung. Was ESFS auszeichnet, ist seine Fähigkeit, Höhenkarten aus drastisch kleineren Eingabebilddatensätzen zu rekonstruieren. Dieser technologische Fortschritt beschleunigt den Bildaufnahmeprozess erheblich und ermöglicht es, sogar schnell bewegliche Proben zu messen.

ESFS kann Oberflächenhöhenmessungen über eine Spanne von mehr als 100 Mikrometern mit submikrometrischer Präzision liefern. Beeindruckenderweise erreicht es dies mit nur 8 Eingabebildern und einer außergewöhnlichen Geschwindigkeit von bis zu 67 Topografien pro Sekunde.

Diese beispiellose Geschwindigkeit und Effizienz, gekoppelt mit hoher Auflösung, ermöglichen erstmals die Charakterisierung großer, sich schnell bewegender Systeme. Dieser Durchbruch eröffnet spannende neue Horizonte für verschiedene Industrien und verspricht, die optische Metrologie in eine neue Ära von Geschwindigkeit und Präzision zu führen.

Paper SPIE 23Inspiring Metrology: Lei Zheng