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网络研讨会和讲座

摩擦学,有效测量表面

网络研讨会和讲座
David Páez
工程物理学学士,纳米科学与纳米技术硕士,Sensofar 计量学 高级产品专家 at Sensofar Metrology |  Other articles

David 在光学三维计量领域拥有丰富经验,他与客户及内部工程团队紧密合作,深入了解涉及表面形貌和尺寸检测的实际测量需求。通过这种协作,他将Sensofar的计量专业知识转化为切实可行的测量策略,帮助工程师和研究人员从测量数据中获得可靠的洞察,并在全球范围内的各类工业及科研应用中取得成功。

在此次网络研讨会中,您将通过从接触式测针轮廓 Ra 分析转向 Sa 光学区域分析来加深对粗糙度表征的了解。

磨损、摩擦、腐蚀…我们将讨论 Sensofar 轮廓仪能够测量的可对您的摩擦学测试进行表征的参数。

了解如何快速方便地使用三合一技术来测量从样品中去除的材料量。

能够测量使用前后的表面磨损对于确保质量控制和质量保证至关重要。

关键主题

在摩擦学应用中使用三合一轮廓测量技术的优势

快速准确地测量磨损量

与轮廓分析相比,使用区域粗糙度参数的好处

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