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ISO 25178について知っておくべきこと:表面テクスチャの特性評価 ー ビデオ

Sales Support Specialist, BSc in Engineering Physics, MSc in Nanoscience and Nanotechnology at Sensofar Metrology | Other articles

David studied his bachelor’s degree at the Polytechnic University of Catalonia (UPC), where he started to work as a Research Assistant in the Department of Physics. Once he finished his master’s degree at the University of Barcelona (UB) he entered into the world of optical metrology joining Sensofar. As a Sales Specialist, he communicates Sensofar’s knowledge about optical metrology and trains our customers on how to extract the full potential of our systems. If you need him, he’ll probably be in our demo room measuring samples or performing live demonstrations.

ISO 25178は、3D面テクスチャの特性評価における主要なマイルストーンの1つと見なされています。 自然は本質的に三次元であるという原則に基づいています。 したがって、これは3Dサーフェスを考慮した最初の国際標準です。

特に、この規格は、3D表面テクスチャパラメータと適用可能な演算子を、測定技術とキャリブレーション方法とともに定義しています。

KEY TOPICS

接触面と非接触面の評価の違い

成功する結果を得るために最も適切なフィルターを選択する

アプリケーションに便利な表面粗さパラメータを選択するための簡単なツール

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