Author Archive for: "David Páez"

Erfahren Sie mehr über die Charakterisierung von Textur, Ebene und Form polierter Proben. Gewinnen Sie Einblicke in die Grundlagen der Oberflächenmessung, entdecken Sie die besten Technologien [...]

Der Bedarf nach der Vermessung der Oberfläche liegt im Rahmen des CMP-Verfahrens auf der Hand, immerhin ist die mechanische Interaktion zwischen den Oberflächen bei allen Prozessschritten eine [...]

Konnte festgestellt werden, dass Sdr einer jener Parameter war, die stärksten Änderungen aufwiesen. Sdr spielt bei Anwendungen im Zusammenhang mit Adhäsion und Beschichtungen eine wichtige [...]