慕尼黑上海光博会
非接触式三维表面计量
在Sensofar，我们了解精确可靠的表面计量在质量保证中的重要性，因此我们为制造业提供尖端的计量解决方案。 我们在亚洲设有销售办事处， 并结合全球业务，我们致力于提供创新的系统，帮助客户改进生产流程并提供高质量的产品。
我们在光学和非接触测量技术方面的专业知识帮助制造业专业人士克服了最具挑战性的表面测量问题。
发现Sensofar如何帮助您优化制造过程！
一起参观！
展位号 Hall E7, 7306
2026年3月18日至20日
周二至周三，09:00-17:00
上海国家会展中心
新闻与展示
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transformed with the latest SensoVIEW 2.3!
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Our talented scientific team has developed a new paper that will be showcased at SPIE Photonics West congress. This paper proposes the new Encoded Search Focal Scan (ESFS), a method able to reconstruct sample height maps from an order-of-magnitude reduced set of images.
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我们拥有一支专家技术团队，可为您指导如何使用我们的系统。如果您对我们的任何产品的演示感兴趣，我们强烈建议您抓住此机会。
