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Sensofar Metrology 推出首个大面积 3D 光学测量系统:S wideNEW

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Sensofar Metrology 非常荣幸地宣布其将发布适用于大面积测量的新一代形貌测量工具S wide 是高性能非接触式 3D 光学大面积测量系统,专为微尺度测量而设计,具有先进的检查和分析功能。
S wide 是专用解决方案,适用于快速测量大样品区域,测量面积最高可达 300 x 300 mm (11.8 x 11.8 in)。它具有集成了数字显微镜的高分辨率测量仪器的所有优点。一键式采集功能,易于使用。

chip topography and profile 3d-color

最重要的特点包括:

无需 Z 轴扫描即可测量最高 40mm 的单次测量高度。

整个扩展区域内的亚微米级高度可重复性。

与 3D CAD 模型的形状偏差
(提供几何差异和公差测量)。

具有极低场失真的双侧远心镜头,提供精确的测量。

S wide 适用于以下解决方案:

 

  • 先进制造业
  • 考古学与古生物学
  • 消费类电子产品
  • 医疗设备
  • 模塑
  • 光学
  • 钟表业
Topography and profile of the calibration specimen 3D False color

S wide 适用于所有实验室环境,不受限制,且可作为生产区域中的传感器。
每一款 S wide 产品都是为提供准确且可追溯的测量结果而制造的。系统已根据 ISO 25178 和 VDI2634-2 标准进行了校准和追溯。
S wide 配置 SensoSCAN ,该软件可通过其清晰、直观且用户友好的界面驱动系统,并可与新的 SensoVIEW 软件结合使用,用于进行各种分析任务。SensoPRO 还创建了自动化分析模块,让所有质量控制程序变得更加容易。

S wide complete system

如需更多信息,请访问 www.sensofar.com/swide


S wide 系统将在即将举办的展会中进行演示:

  Broaden your Horizons with the New Sensofar System, S wide

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