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新闻

Sensofar 副总裁参与制定新的 ISO 25178 标准

技术, 新闻, 测量学

Artigas 博士正全身心地投入在新ISO 25178 标准:产品几何量技术规范(GPS)——表面结构:区域的制定工作中。ISO 25178将是首个将3D 表面测量方法的规范和测量纳入官方考量的国际标准,并将包含目前适用于非接触式测量方法且行业常用的标准,而之前的标准在ISO 9000质量体系框架中至今一直缺少支持质量审查的标准。

新标准包含七个章节,由NIST(美国国家标准技术研究所)NPL(英国国家物理实验室)和PTB(德国联邦物理技术研究院)等众多知名科学机构编写制定。

ISO 25178 标准包括有关3D 测量的基本定义以及可根据不同现有技术的分类计算的主要参数。第6 章的主要内容是普遍用于测量表面的方法和技术的分类,其中Artigas 博士具体描述了成像共聚焦显微镜(ICM)的方法。

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