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ニュース

Sensofarが平坦度測定用の新しいレンズを開発

Metrology, カテゴリーなし, ニュース, 製品

新しい0.65倍レンズはSensofarによる完全自社開発です。

Sensofarでは、開発の限界に挑み続けています。このたび、当社の研究開発チームが社内で開発した0.65倍マイケルソン型レンズを発売する運びとなりました。
当社の機器、なかでもS neox 3D光学プロファイラーは、その継続的な発展と表面形状測定の分野における複雑な応用を解決する汎用性において非常に優れたものです。
今回の課題は、機器を交換することなく、最大限の精度で平坦度を測定することでした。そしてこれこそ、今回解決した課題です。

特定の要素3つを組み合わせることで、平坦度、平行度、ステップ高さの特徴付けにおいて最適な性能を実現しました。

    Sensofarの独自設計 − 0.65倍マイケルソン

このレンズは、「平坦度を素早く、正確に測定する」というただ1つの目的のために作られました。密度の高いサンプリング、大きな視野、そして干渉計の組み合わせにより、求める処理能力が確保されます。

    高精度XYステージ

平坦度の要求が非常に高い場合、高性能なXYステージが重要な要素となります。ステージには非接触式の光学式リニアエンコーダが搭載されており、プラットフォームで位置を直接、極めて高い精度で測定可能です。

    S neox 3D光学プロファイラー

当社のフラッグシップシステムであるS neoxは、市場で最も汎用性の高い3D光学システムです。性能、機能、効率、デザインの面で、既存の光学式3Dプロファイリング顕微鏡を凌駕しています。

「この新しいレンズを発表することができ、うれしく思います。これは複数専門分野を網羅するチームによる努力の成果です。光学設計、機械設計、アルゴリズム最適化の各部門が協力し、顕微鏡バースの干渉計を用いながらも、大きな視野と最高の性能仕様を達成することができました。」

コメント:Roger Artigas,
社長兼最高技術責任者

ぜひ、当社ウェブサイトにてこの新しいパッケージのセクションをご確認ください。

詳細はこちら: S neox 0.65X leaflet

レナ・ジュコワCharacterizing form deviation and surface texture changes in additive manufacturing.