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Sensofarの焦点移動法

焦点移動法は、広範囲の粗い表面を測定するために開発された光学技術です。共焦点測定法と干渉3D測定法の組み合わせにおけるSensofarの幅広い専門知識に基づいて開発され、低い倍率での共焦点測定を補完することを目的に設計されています。

背景

焦点移動法の原理

焦点移動法は、明視野像の限られた焦点深度を利用し、サンプルの特定のZ範囲のみに焦点を当てます。この値は、対象の開口数または光源の波長によって変化します。Zの値は像の高周波要素(シャープネスまたは詳細部)を測定して計算され、その結果、最適な焦点位置を取得します。

Background AiFV

光学方式

光学方式は特許を取得したマイクロディスプレイテクノロジーに基いており、光源(LED)からカメラまでさまざまな光学素子を通過する光を映します。この場合、マイクロディスプレイは鏡のように(100%の反射率で)働きます。この光学方式は、標準的なビデオ顕微鏡に類似します。垂直方向の走査によって、明視野像をあらゆる面でとらえることが可能です。

S neox Ai Focus Variation Configuration

プロプリエタリアルゴリズム

焦点移動法の制約を克服

テクスチャのない表面では、焦点演算子が最適な焦点位置を認識するための十分な信号を提供しません。これは光学的に滑らかな表面でよく見られ、ノイズの入った3D結果が提供されます。Sensofarのシステムは、アクティブ照明を使用することで、コントラストが低いために焦点演算子が十分な信号を提供しない光学的に滑らかな表面でも、より信頼性の高い焦点位置が取得できるように改良されています。マイクロディスプレイが人口テクスチャ(チェスボードパターン)を投影するようになりました。

Ai Focus Variation Algorithm
Banner Webinar AiFV
Insert AiFV

主な特長

主なテクノロジーには、急傾斜表面測定(最大86°)、高速測定(最大3mm/s)、広垂直レンジ測定が含まれます。

  散乱する表面で最大86°の傾斜を測定 

  アクティブ照明により滑らかな表面での測定が可能 

  3秒間で200面の高速測定 

  複数の

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アクティブ照明焦点移動システム

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