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网络研讨会和讲座

半导体行业应用交流会

网络研讨会和讲座

从材料生长到前段制程再到最后的封装测试,对产品的表面测量对于质量把控而言至关重要。通过实际应用了解我们的计量解决方案如何满足当下严格的质量管控要求,为研发及制造产出提供可靠的数据。我们的综合解决方案包括通用光学轮廓仪和用于缺陷检测的专用表面检测设备。了解光学测量如何在半导体行业大展身手,在提高流程效率和降低浪费风险中的关键表现。

加入我们,保持您在行业中的领先!

流程图

   为什么我们选择光学测量半导体?

  Sensofar公司及测量技术介绍

  前段及后段制程的应用

  实机测量演示

  Q&A环节

谁可能有兴趣参加网络研讨会:

   寻找有效解决方案的公司质量控制经理。

  希望了解无损伤表面测量技术的公司员工。

  半导体行业客户,想要加强对光学系统应用的了解。

  对半导体、材料和性能进行研究的学术和研究机构。

  有兴趣进一步了解光学轮廓仪应用的各位。

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