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新闻

在SPIE 23上展示尖端科学论文

Metrology, 新闻

在Sensofar,我们自豪地宣布我们的团队成员Narcís VilarLena Zhukova开发的两篇开创性科学论文的发布。这两篇论文的题目分别是”Narcís Vilar所著的《利用成像共焦显微镜对增材制造表面拓扑的稳健测量》”和”Lena Zhukova所著的《光学轮廓测量中扫描非线性的计算自校正》”,将在备受期待的SPIE光学测量23大会上在慕尼黑展示。

表面拓扑的鲁棒测量——利用共焦显微成像技术进行增材制造

作者Narcís Vilar, Roger Artigas, Sensofar-Tech, S.L.(西班牙);Martí Duocastella, Univ. de Barcelona(西班牙);Guillem Carles Santacana, Sensofar-Tech, S.L.(西班牙)

2023年6月27日 • 10:50 – 11:10 CEST | ICM Room 14c

Narcis Vilar的论文介绍了一种针对增材制造(AM)零件表面纹理测量的优化光学系统。该系统具有广阔的视场和高数值孔径,解决了表面不规则性和反射率变化带来的挑战。通过将市售物镜与定制设计的管道镜片相结合,实现了适用于AM零件表征的放大倍数和有效数值孔径。该系统采用类似共焦的HiLo技术,并成功对金属AM零件进行了表征。还讨论了增强性能潜力的显微物镜设计。此外,利用高动态范围(HDR)方法,结合多个低动态范围图像,可以重建单个拓扑图以应对反射率变化。总体而言,该论文证实了这种具有广泛空间特征覆盖和HDR能力的光学系统,在各种科学和工业环境中提供了多功能的解决方案。

光学轮廓测量中扫描非线性的计算自校正

作者Lena Zhukova, Roger Artigas, Guillem Carles Santacana, Sensofar-Tech, S.L.(西班牙)

2023年6月27日 • 12:30 – 12:50 CEST | ICM Room 14c

另一方面,Lena Zhukova的论文专注于一种计算方法,用于减少在使用电动线性台阶进行扫描的光学轮廓测量仪中的非线性。通过分析两个已知位移间隔的拓扑图(可以从单次扫描中提取),该算法能够预测和消除定位系统误差,显著提高测量精度。这种零成本解决方案为解决电动线性台阶的非线性问题提供了实用且有效的方法,扩大了光学轮廓测量在各行业和研究领域中的适用性。

SPIE光学测量会议以展示光子学和相关技术的尖端进展而闻名,为Vilar和Zhukova与全球科学界共享他们的开创性研究提供了理想平台。Sensofar赞扬他们的杰出贡献,并期待他们的工作对计量领域产生深远影响。

BRET Integrable solutionInspiring Metrology: Lei Zheng