药物洗脱支架

我们检测系统所搭载的技术，能够对支架表面的光学透明涂层进行无损测量。
这项三维测量技术的垂直分辨率达到纳米级别，可在数秒内完成药物洗脱涂层的厚度测量。

相较于繁琐且具有破坏性的扫描电子显微镜（SEM）测量法，该技术结合我们检测系统的定位优势，让 Q Vix 成为市场上在研发和工艺开发阶段表征涂层工艺的最优工具。

针对药物洗脱支架设计的专属检测方法，能够自动检测各类涂层完整性缺陷，如裸漏区域、涂层过厚、异物附着以及涂层转移等问题。
各类生产缺陷的检测标准均可根据检测规范中制定的外观标准进行调整。
借助获取的高清图像，还能对支架表面未被涂层覆盖的区域占比进行测量。

此外，Sensofar Medical将涂层厚度的三维测量与二维检测进行自动化整合，仅通过一个检测程序，就能提供涂层支架检测所需的全部信息。
Sensofar Medical研发的高性能软件解决方案，可定位支架上任意一处涂层完整性缺陷，测量支架的涂层覆盖区域占比，并在指定位置对涂层厚度进行精准测量，而这一系列操作均可在数秒内完成。