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新しい高速フル3D測定ソリューション、S neox Five Axis

Metrology, ニュース, 製品

Sensofar Metrology は、New S neox Five Axisの販売を開始しました。この新しい3D光学式形状測定装置には、これまでと同じ高精度の回転モジュール、高解像度移動プラットフォーム、高度な検査・分析性能が採用されていますが、デザイン、機能性、性能、そして速度において大きな改善が見られます。これにより、定義済みポジション(視野)での自動3D表面形状測定を組み合わせてフル3D体積測定が可能となり、マイクロマシニング、添加物製造、ツーリング、医療テクノロジー用途に理想的です。

新しいS neox Five Axisは、独自のスマートなアルゴリズムによりすべてが高速化されており、効率性において既存の光学式3D測定顕微鏡を上回ります。データ取得速度は180 fpsで、標準測定値取得は従来の5倍のスピードに相当します。

S neox Five Axisは、研究開発や品質管理試験室に求められる柔軟性、安定性、耐久性において設計改善が実現されています。弊社の最適化されたソリューションは、その柔軟性と使いやすいインターフェースにより品質管理環境で活用でき、24時間連続稼働の設定が可能です。 S neox Five Axisのセンサーヘッドに採用されたSensofarの3-in-1テクノロジーのアプローチ、共焦点法(重要な寸法)、干渉法(サブナノメートル粗さ)、アクティブ照明焦点移動法新方式(形状・フォーム)が、システムの汎用性に大きく貢献するとともに、データ取得における不適切な妥協を最小限にとどめます。

 

重要な特長には次のようなものがあります。

新しいアクティブ照明焦点移動法は、大きな粗い表面を測定するために開発された光学技術です。これは、アクティブ照明を用いることによってさらに改良され、なめらかな光学表面でもより信頼性の高い焦点を取得することが可能となっています。

  新しい薄膜測定法では、ユーザーはサンプルを準備しなくても光学的に透明な層の膜厚を迅速かつ正確に傷つけることなく測定でき、膜厚50 nm~1.5 μmの透明膜を1秒以内に測定することが可能です。

  ハイダイナミックレンジHDR)機能が、高反射表面 (局所的傾斜、異なる材質) での反射や脱落を軽減します。

3D optical systems

この新しいS neox Five Axisは、モーションシステムの能力を補足・活用するために設計された複数の特別な取得モードも統合しています。マニュアルモードは、個々の視野(FOV)を高精度のポジショニングで測定し、またグリッドモードは個々のFOVを複数の異なる(横)ポジションでキャプチャできます。そして最後に、3Dモードは「five multiple recipes」(5MR)を使用する自動手順であり、5軸ポジションと測定取得を組み合わせてSTLファイル形式で3Dトポロジーを取得します。STLファイル形式は、Gom、Polyworks、Kotem、Geomagicなどの数多くの3Dソフトウェア分析プラットフォームでサポートされています。

このため、S neox Five Axisシステムは、フル3D取得を含むさまざまなアプリケーションニーズ向けに異なる視野からサンプルの表面を包括的に特性評価する効果的な専用ソリューションとなります。

Sensofarの直観的で使いやすいSensoFIVEを通じて制御される取得機能により、新たな高度分析モジュールが3D CADモデルからの形状逸脱判定、試験と摩耗逸脱(ツーリング用など)のハイライト、リバースエンジニアリングの適用、さらには厳しい寸法要件(角度、半径、輪郭)、ISO 25178に準拠する表面性状(形状と粗さ)および体積の測定に必要なツールを提供します。

詳しくは、S neox Five Axis をご覧ください。

新型S neox Five Axisシステムは、次の展示会でデモンストレーションが予定されています。

EMO(国際金属加工見本市)、ドイツ・ハノーバー(9月9~11日)
MECT(メカトロテックジャパン)、名古屋 (10月23~26日)

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