Start typing and press Enter to search

This website does not support Internet Explorer. For a correct visualization we recommend to use Microsoft Edge or Google Chrome.

网络研讨会和讲座

光学测量技术大师班

网络研讨会和讲座
总裁兼首席技术官,物理学博士(光学工程) at Sensofar Metrology | Other articles

Roger 拥有光学表面形貌测量领域的多项专利。\n他还是 ISO 25178 技术委员会成员。\n2001 年成为 Sensofar 的联合创始人。\n自 1997 年至今,Roger 一直在传感器、仪器和系统开发中心 (CD6) 工作,担任光学工程师研究员。Roger 从 2005 年至今一直是 ISO25178 标准 TG WG16 委员会成员,该标准被广泛用于 Sensofar 开发设备的相关领域。他目前任 Sensofar Tech SL 的总裁兼首席技术官。\n

当今市场上的许多系统都采用了光学测量技术,使用户能够获得他们在表面测量作业中所需的测量数据。

运用最广泛的技术包括:条纹投影、共聚焦、干涉测量和多焦面叠加。

在我们最杰出的专家Roger Artigas 博士的指导下,我们将简化这些光学技术,向您提供有关何时以及如何使用它们的指南。

关键主题

  表面测量中的主要光学技术的工作原理

  比较市面上最常用的技术

  测量厚膜和薄膜的区别

  每种技术的优点和缺点清单

  结合 3D 光学技术的好处

注册以观看网络研讨会


 我同意隐私政策和使用条款。(*)


* 数据控制器:SENSOFAR。 目的:满足用户的要求。 合法性:利益相关方的同意。 转让:除非有法律义务,否则您的数据不会被转让给第三方,并且只要您不要求取消,您的数据就会被保留。 权利:您可以行使访问权、更正权、携带权和反对权,或者在适用的情况下限制和/或取消处理。 如果您认为该处理不符合现行规定,您可以向管制局 (www.aepd.es). 附加信息: Privacy Policy.

ISO 25178 WebinarAdditive manufacturing webinar